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产品型号：薄膜应力和硅片翘曲检测仪
品牌：FSM
产品产地：美国
产品类型：进口
原制造商：Frontier Semiconductor
状态： 在售
厂商指导价格：
未提供
英文名称：Thin film stress and silicon wafer warpage tester
上市时间：
2016-10-30
优点： 基于Optilever激光扫描技术。 使用应力控制，避免薄膜分层，形成凹凸状。 
参考成交价格：
50~100万元[人民币] 查中标价
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