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FT230用于镀层分析的全自动XRF参数指标
| FT230台式XRF分析仪 |
| 元件范围 | Al （13） - U （92） |
| 探测器 | 硅漂移SDD检测器 |
| 腔室设计 | 开槽或已关闭 |
| XY舞台设计 | 电动或固定 |
| XY 载物台行程 | 250 x 200 毫米 |
| 电动 Z 轴行程 | 205 毫米 |
| 最大样本数量 | 500 x 400 x 150 毫米 |
| 准直器数量 | 4 |
| 聚焦激光 | 标配 |
| 自动对焦 | 选择 |
广角摄像头 | 选择 |
与距离无关的测量 | 选择 |
查找我的零件™智能识别 | 选择 |
涂层分析 | ✔️ |
RoHS 筛查 | ✔️ |
软件 | FT 连接 |
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