普林斯顿VersaScan微区扫描电化学工作站参数指标

VersaSCAN SECM
Scanning ElectroChemical Microscopy 扫描电化学显微镜系统

VersaSCAN SECM 整合了定位系统、两台VersaSTAT恒电位仪和锥形抛光的超微电极探针为一体。SECM多样化的技术提供了高空间分辨率，可应用于反应动力学，生物传感器，催化剂和腐蚀机理等研究。

• 兼容恒电位仪:  VersaSTAT 3F 和VersaSTAT 3/3F/4。

• 可进行逼近曲线实验包含“反馈”模式和“发生-采集”模式两种成像模式。

• 结合了表面形貌测量技术，如典型的如非接触式微区形貌扫描系统OSP，可进行样品表面定距离扫描，

• VersaSTATs 配置不同功能的操作软件，能够提供强大的成套的非扫描电化学测试，取决于其特有的软件模式。

VersaSCAN LEIS
Localized Electrochemical Impedance System 微区电化学阻抗测试系统

VersaSCAN LEIS 整合了 定位系统和VersaSTAT 3F 及差分电压选项, 静电计，双探头探针。 LEIS技术是通过测量施加于样品的交流电压和由探针所测量的溶液中交流电流的比值，来计算局部阻抗，LEIS加入高的空间分辨率，可应用于有机涂层，裸露的金属腐蚀，和所有和增加的交流技术相关的应用。

• 恒电位仪：VersaSTAT 3F及差分辅助选项

• 可进行固定频率/扫描位置的数据成像，和固定位置/扫描频率的Bode图或者Nyquist图。

• 当设定不同的测量时间测量，可进行时间分辨成像

• 结合了表面形貌测量技术，如典型的如非接触式微区形貌扫描系统OSP，可进行样品表面定距离扫描，