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MS105
MS105DU
MS205DU
zei大称量值
120g
42/120g
82/220g
可读性
0.01mg
0.01/0.1mg
0.01/0.1mg
重复性
0.04mg
0.02/0.08mg
0.02/0.08mg
线性误差
0.1mg
0.15mg
0.2mg
防风罩的有效高度
234 mm
称盘尺寸
ø 80 mm
天平尺寸（宽x深x高）
358x247x331 mm
校正技术
FACT
梅特勒-托利多电子天平MS205DU半微量天平
| 重复性（sd） | 0.08 mg |
| 重复性（sd） ，精细量程 | 0.05 mg |
| 线性误差 | 0.2 mg |
| 灵敏度温度漂移（ 10-30°C） | 2 ppm/ °C |
| 稳定时间 | 8 s / 4 s |
| 防风罩的有效高度 | 234 mm |
| 秤盘尺寸 | ø 80 mm |
| 天平尺寸（宽 x 深 x 高） | 358x247x331 mm |
| 天平净重 | 6.6 kg |
| 灵敏度温度漂移（ 10-30°C），精细量程 | 0.02 mg |
| 线性误差（10g），典型值 | 0.02 mg |
| zei小称量值 （符合 USP），典型值 | 45 mg |
| zei小称量值 (U=1 %, k=2)，典型值 | 3 mg |
梅特勒-托利多电子天平MS205DU极限值 | |
| zei大称量值 | 220 g |
| zei大称量值，精细量程 | 82 g |
| 可读性 | 0.1 mg |
| 可读性，精细量程 | 0.01 mg |
| 重复性（正常加载时） | 0.08 mg (200 g) |
| 重复性（低加载时） | |
| 线性误差 | 0.2 mg |
| 灵敏度偏移 | 0.8 mg (200 g) |
| 梅特勒-托利多电子天平MS205DU典型值 | |
| 重复性（正常加载时） | 0.07 mg (200 g) |
| 重复性（低加载时） | 0.015 mg (20g) |
| zei小称量值（符合 USP） | 45 mg |
| zei小称量值 (U=1 %, k=2) | 3 mg |
| 稳定时间 | 4s / 8s |
| 灵敏度漂移 | 0.6 mg (200g) |
| 梅特勒-托利多电子天平MS205DU天平尺寸 | |
| 秤盘尺寸 | ø 80 |
| 天平尺寸（宽 x 深 x 高） | 358x247x331 |
