梅特勒-托利多微量分析天平 XPE105参数指标

梅特勒XPE105分析天平技术参数：

稳定时间: 2.5 sec
尺寸 宽度: 263.0 mm
尺寸 深: 487.0 mm
尺寸 高度: 322.0 mm
秤盘外形尺寸 深: 78.0 mm
秤盘外形尺寸 宽度: 73.0 mm
Material Number: 30087635