Talos Arctica G2冷冻透射电子显微镜参数指标

X-射线安全性：X-射线辐射≤1 μSv/hr ，在0.1 m距离安全测试中，使用X射线传感器

FEG探针电流：探针电流在1nm点尺寸，X-FEG：>1.2nA

信息限制：≤ 0.23 nm，在零试样倾斜时；≤ 0.34 nm，在 -70度 和 +70度 试样倾斜时

Thon 圆环：在超出2.7 nm-1空间频率 (对应于 0.37 nm分辨率)时， 在-2 μ m 离焦的Ptlr样品图像的旋转平均功率谱内，Thon圆环可见

样品交换后漂移：交换后zei大漂移值： 

5 min: 1.2 nm/s (LM 概览)

15 min: 0.45 nm/s (目标区)

30 min: 0.25 nm/s (开始断层成像)

60 min: 0.05 nm/s (开始EPU)

自动加载性能：以下过程应无错误地运行: 4 盒磁带中的每一个都装满 6 AutoGrids 并停靠。接下来, 将进行清点, 并将每个 AutoGrid 加载到该列中一次。

STEM分辨率（选项）：< 0.23 nm 

断层扫描 (选项)：

重现性X, Y ≤ 0.4 um 期间α倾斜从-70度 到 + 70度

Eucentricity X, Y ≤ 2 um 在α倾斜期间从-70度 到 + 70度

Eucentricity 散焦≤ 4 um 在α倾斜期间从-70度 到 + 70度

EPU（选项）：示例数据组为15张图像，显示正确的目标区域被成像了