返回 M2LR露点仪探头 返回 M2LR露点仪探头 
M2LR露点仪探头可测量气体和非水液体中从微量到常量的水份含量。它可与GE传感与测量部门所有露点仪配合使用。使用方便、宽测量范围和严格的校准稳定性使这系统成为世界范围内工业水份测量的选择。
在超过四十年的时间中，GE传感与测量的M2LR露点仪氧化铝水份探头树立了工业水份测量的性能与测量值标准。使用时，M系列水份探头由连接电缆与GE传感与测量的湿度计仪表相连。使用方便、宽测量范围和严格的校准稳定性使这系统成为世界范围内工业水份测量的选择。
M2LR露点仪氧化层薄膜的厚度是该类型探头性能的关键。GE传感与测量制造的探头所具有的氧化层薄膜厚度使得其显示真正的绝对湿度，而不是相对湿度响应，同时使得温度与滞后的影响降至最低。这层关键的薄膜厚度也让GE传感与测量的M系列探头具备快速响应和超常的标定稳定性。
在气体与液体中工作的原理
使用M系列M2LR露点仪探头在气体与液体中直接测量水的分压非常便利与有效。这探头由经过一系列特殊工艺阳极电镀使铝基表面产生多孔氧化层，并在氧化铝表面上蒸镀一层极薄金镀层。该铝基与金镀层形成了两个电极，使整个结构成为一个氧化铝电容。水汽快速地渗透过金镀层，并平衡分布于氧化铝的孔隙壁上。氧化铝结构吸收的水分子数量决定了孔隙壁的传导率。每个孔隙壁的电阻值提供了一个独特的，与水的分压成函数关系的阻抗。这个函数关系适用于气体与液体中的水份测量。
M2LR露点仪探头远程安装性能与超宽的操作参数范围允许探头可被直接安装在所需测量的位置。因为被采样的介质并不需要被送至分析仪，时间延迟和采样介质被传输系统污染的潜在危险均被消除。这个特点对测量非常微量的水分含量以及快速变化的测量极其重要。
当测量受到传导性的或腐蚀性的微粒污染，或是相悖工艺条件威胁时，就需要通过采样系统进行调节。GE 传感与测量部门生产的采样预处理系统，去除了污染，保留了真正的水份含量采样值。这些设计经实际应用测试验证是可靠的，只需很少或无需维护。
参考成交价格：