MIS PROBE2露点仪探头

MIS PROBE2露点仪探头参数指标

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技术参数:

氧化铝水分传感器探头

每个探头均由计算机按照已知水分浓度进行单独校准,可溯源至NIST或NPL。

露点/霜点校准范围:

整体校准范围能力:140°F~–166°F(60°C~–110°C)
标准:68°F~-112°F(20°C~–80°C)数据达-166°F(–110°C)
超低:-58°F~-166°F(–50°C~–110°C)
超高:140°F~-112°F(60°C~–80°C)数据达 -166°F (–110°C)

准确度:

±3.6°F(±2°C),140°F~-85°F(60°C~–65°C)
±5.4°F(±3°C),-86°F~-166°F(–66°C~–110°C)(-66°C~110°C)

重复性:

±0.9°F(±0.5°C),140°F~-85°F(60°C~–65°C)
±1.8°F(±1.0°C),-86°F~-166°F(–66°C~–110°C)

温度:

传感器工作温度(过程温度):–166°F~158°F (–110°C~70°C)
Moisture Image系列探头电子模块的工作温度:32°F~140°F (0°C~60°C)
存储温度:最高158°F(70°C)

工作压力:5Hg至5000psi表压 (345bar)

流量范围

气体:1个标准大气压下,从静态到10,0/s的线速度
液体:从静态到250px/s的线速度,密度为1g/cc

响应时间

加湿或烘干周期内的含湿
量在63%的阶跃变化时,不到五秒

MIS探头/分析仪的分离

最大推荐长度3000ft (0.9km)

 

产品应用:

石油化工

天然气

工业气体

半导体

炉气/热处理

发电

空气干燥器

药业

航空航天

 

露点仪探头型号:

GE露点仪探头MISP2-2W-000-0000
GE露点仪探头MISP2-2W-000-1000
GE露点仪探头MISP-2R-T10-0000
GE露点仪探头MISP-2R-T4L-1000
GE露点仪探头MISP-2W-T00-1000
GE露点仪探头MISP-2W-T20-0000
GE露点仪探头MISP-2W-T30-1000
GE露点仪探头MISP2-2W-T10-0000
GE露点仪探头MISP2-2W-T10-1000
GE露点仪探头MISP2-2W-T20-1000
GE露点仪探头MISP2-2W-T40-1000


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