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原位MEMS-TEM-STM多场测量系统（非定量力+电+光+加热）是一种革命性的原位透射电子显微镜实验系统，使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境（包括力，热，光，电等），从而对材料或者器件等样品实现多重激励下的原位表征。
原位MEMS-TEM-STM多场测量系统（非定量力+电+光+加热）是一种革命性的原位透射电子显微镜实验系统，使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境（包括力，热，光，电等），从而对材料或者器件等样品实现多重激励下的原位表征。
光纤指标
●多模光纤外径250um，保证电镜系统真空指标;
●可选光纤探针、平头光纤;
●配备快速SMA接头、FC接头。
加热指标
●温度控制范围：室温至1000℃；
●温度准确度：优于5%；
●温度稳定性：优于±0.1℃。
产品特色
●可通过简单更换MEMS芯片种类以及不同STM探针为样品施加四种激励，实现多种复杂的测试功能，完成以往无法实现的研究；
●高温拉伸/压缩 (加热芯片+电学STM探针) ;
●热电子发射/场发射 (加热芯片+电学STM探针) ;
●三端器件测量 (电学芯片+电学STM探针) ;
●电致发光现象研究 (电学芯片+光学STM探针) ;
●光电现象研究 (电学芯片+光学STM探针) 。
应用领域
部分国内用户
参考成交价格：