岛津能量色散X射线荧光光谱仪EDX-LE Plus：

技术参数：

1. 测定原理  X射线荧光分析法

2. 测定方法 能量色散型

3. 测定对象 固体、液体、粉状

4. 测定范围 13Al -92U

5.样品室尺寸 较大W370mm×D320mm×H155mm

6. 制冷方式  电子制冷

7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换

8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析