外延片PL谱扫描成像仪PL/PLE光致发光谱测量系统技术特点

【技术特点】-- 外延片PL谱扫描成像仪PL/PLE光致发光谱测量系统

主要特点：

仪器特点


高品质及中等价位的PL扫描系统(高性价比)；

波长范围宽广(UV-VIS-NIR, 350nm to 2.2um)；

噪声低，高PL信号探测；

设计紧凑，易于调谐；

各种激发激光源可选；

易于发现峰及FWHM；

【技术特点对用户带来的好处】-- 外延片PL谱扫描成像仪PL/PLE光致发光谱测量系统

【典型应用举例】-- 外延片PL谱扫描成像仪PL/PLE光致发光谱测量系统