ASI J200 LA 激光剥蚀...

ASI J200 LA 激光剥蚀进样系统

参考成交价格: 150~200万元[人民币]
技术特点

【技术特点】-- ASI J200 LA 激光剥蚀进样系统

J200飞秒激光剥蚀进样系统(LA)可与市面上的普通四级杆质谱仪、飞行时间质谱仪和多接收质谱仪等常见质谱仪联用,是Russo博士于2004年创建了ASI公司极力的生产和研发了此款设备,致力于激光诱导等离子体光谱和剥蚀技术在化学分析领域的应用和开发,目前飞秒激光源技术已经应用于医疗领域,用于激光视力矫正手术和白内障手术,J200飞秒激光剥蚀进样系统将飞秒激光源技术可靠性提升到一个新高度,系统采用了一种自动调高传感器,该传感器的设计考虑到了样品表面的形态变化。

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技术优势:

LA-ICP-MS 的量子级飞跃:

J200飞秒激光进样系统是LA-ICP-MS技术向高精度、高准确度、高灵敏度水平发展的重大突破。飞秒级的脉冲宽度使样品直接被汽化,然后去激态形成类似于晶体的纳米级均匀颗粒而被载气输送进ICP-MS,无分馏现象,这意味着剥蚀的颗粒能真实地代表样品的化学特性,这是长脉冲激光技术无法达到的。

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自动测量方案:

可以将多个硬件组件指令分组,并及时对它们进行排序,以创建一个Axiom LA采样方案。方案一经创建,之后就可以将它们调出,并将它们组合,以提供高度自动化的检测体验。我们只需“调出”整个方案以重复实验,或者复制方案的一部分,将其与新的指令结合起来,以解决新的采样方案。

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J200飞秒激光剥蚀进样系统(LA)组装方式简单,方便对输气管道进行定期清理,Flex样品室可以容纳直径为4英寸的样品,使用一组可互换的顶部和底部镶嵌块来调节流动条件和微粒冲洗时间,ICP-MS系统按顺序自动运行,并被精确控制,带来理想的气流,防止等离子体火焰熄灭。预设配置可以选择输送氩气、氦气或补充气体,J200飞秒激光剥蚀进样系统可以提供广角视野和高倍成像,Axiom具有双向通信控制,实现了与您的ICP-MS前所未有的集成级别。




J200 LA 激光剥蚀进样系统特色
高稳定Q开关, 短脉冲Nd:YAG 激光 ,可选择多波长 < 5 nsec at 213 nm ,创新的模组化设,为独立 LA, LIBS, LA - LIBS 复合的系统设计 ,因分析需求,提供三种LIBS 检测器选择 ,激光剥蚀均匀且一致性的LA系统
自动样品高度调整功能

J200激光剥蚀进样系统采用ASIzl技术:剥蚀导航激光和样品高度自动调整传感器相结合,解决了若样品表面凹凸不平而剥蚀不均、导致元素含量值误差大的问题;激光能量稳定阀确保了到达样品表面的激光能量均匀,使所有采样点的激光烧蚀均匀一致;3-D全自动操作台最大行程可达100mmx100mmx36mm,XY行程分辨率0.2μm,Z行程分辨率0.1μm, 优于其它任何同类产品

稳定激光能量的光闸设置

高分辨双CMOS相机系统, 可用于宽视野观测样品表面特征 应用光谱公司的 Flex 样品室内置气体模组可优化气流和颗粒清洁能力,满足不同测量要求,先进的微集气管设计,可尽可能的减少排气,防止集结剥蚀颗粒,消除记忆影响。
双通道高精度质量流量控制器和电子控制阀
Axiom LA 软件系统
软件可整合控制硬件组件及ICP-MS 同pu步操作,轻松实现繁杂的激光采样与分析模式 ,强大的数据分析工具用于繁杂的 LA-ICP-MS 串联光谱分析

灵活的分析方法:全分析,夹杂物分析,斑点分析,深度分析和元素分映像
维护成本低

可扩充升级LA – LIBS 复合系统
可扩充升级飞秒 LA 系统





【技术特点对用户带来的好处】-- ASI J200 LA 激光剥蚀进样系统


【典型应用举例】-- ASI J200 LA 激光剥蚀进样系统


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