PCB专用铜厚测试仪 - CMI760技术特点

【技术特点】-- PCB专用铜厚测试仪 - CMI760

可适用于测量孔内镀铜厚度和表面铜-CMI760

日立分析仪器CMI760一款可用于测量孔内镀铜厚度和表面铜的台式PCB专用铜厚测量仪

日立分析仪器CMI760台式测厚仪拥有非常高的多功能性，它集快速精确、简单易用、质量可靠等优势于一体，同时它也是专为测量刚性及柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的电镀铜测量而设计

【技术特点对用户带来的好处】-- PCB专用铜厚测试仪 - CMI760

【典型应用举例】-- PCB专用铜厚测试仪 - CMI760