微束XRF涂层厚度和材料分析仪,方便快速进行质量控制和验证测试,在几秒内即可获得准确的数据。
基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。
技术参数
凭借卓越的分辨率和高效率 SDD,MAXXI 6 是测量最薄涂层和痕量元素成分的理想仪器。MAXXI 6 具有多达6个主滤波器和8个准直器,能够处理最具挑战性的应用。巨大的开槽室设计是小、大或长样本的理想选择。优化的硬件配置可以直接分析化学镀镍应用中的%P。
X-Strata920 可被配置为三个不同的样品台配置,以应对各种不同的样本形状和尺寸。标准台可以快速定位小或薄部件。加深台基座有一个可移动托盘,可快速被配置,以搭配小或大零件(最大6英寸)。电动X-Y台可自动分析多个样品或一个样品的多个位置。
X-Strata 920 | MAXXI 6 |
正比计数器系统 | 高分辨率 SDD |
元素范围:钛 - 铀 | 元素范围: 铝 - 铀 |
样品舱设计:开槽 | 样品舱设计:开槽 |
XY 轴样品台选择: 固定台、加深台、自动台 | XY 轴样品台选择:固定台、自动台 |
最大样品尺寸:270 x 500 x 150毫米 | 最大样品尺寸:500 x 450 x 170毫米 |
最大数量准直器:6 | 最大数量的准直器:8 |
滤波器:3 | 滤波器:5 |
最小的准直器:0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil) | 最小的准直器: 0.05 x 0.05毫米(2 x 2 mil) |
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