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Anton Paar原子力显微镜
安东帕
进口 扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM
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产品型号:安东帕AFM
品牌:安东帕
产品产地:奥地利
产品类型:进口
原制造商:安东帕
状态: 在售
厂商指导价格: 未提供
英文名称:Anton Paar
上市时间: 2010年
优点: 原子力显微镜(AFM)或扫描探针(SPM)技术,是测量表面形貌或表面微小作用力准确有效的技术。位于悬臂梁末端的探针与试样表面接触,并对试样表面进行数字化扫描。通过这种技术,我们可以得到试样表面的超高分辨率三维形貌。这项技术特别适用于残留划痕、压痕以及其他纳米尺度表面特征形貌的高分辨率成像。 瑞士CSM仪器公司三十年来致力于为全球材料、物理、机械工作者提供先进、精准、全面的材料机械性质测试仪器、分析咨询以及测试服务。我们的主要产品包括: 测量材料硬度和弹性模量的纳米级、微米级仪器化压入测试仪(纳米压痕仪, 显微压痕仪); 界定膜基结合强度、薄膜抗划擦能力的纳米级、微米级、大载荷划痕测试仪 (Scratch tester) ; 包括真空、高温以及线性往复运动等选项的摩擦磨损测试仪、纳米摩擦仪 (摩擦磨损试验机 ; zei简便易用的膜厚测试仪; 用于三维成像表征材料表面形貌的原子力显微镜 (AFM) 和白光共聚焦显微镜 (Confocal Microscope) 。
参考成交价格:
100~150万元[人民币]
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标
签
产地
欧洲
类型
原子力显微镜AFM
价格区间
150万-200万
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