仪器简介：

ASTM D5796唯一指定仲裁法测量涂层厚度的仪器，可多层测量，同时得到结果。

技术参数：

DJH Crater Film Thick System测厚仪
 
 
 
 DJH 公司由Doug Henderson于1989年9月于加拿大安大略湖创建。由于DJH的能力，设计及提供的解决客户应用的方案以及质量及设计上的创新非常适合客户的需求，公司的知名度得到迅速提高。
 
 在1991 年4月，卷涂行业问DJH 能否提供一种较好的解决方案来测定涂层的厚度，在1991年7月第一个原型被制成成品并在客户处进行测试。该仪器很快就被作为他们生产线上及实验室中的一种标准方法进行实施，在经过多次的外观改进及产品研发后，该膜厚度系统（现叫“弹坑”）被介绍1992年10月在N.C.C.A举行的卷图工业贸易展，引起了巨大反响，DJH Designs 迅速成为干膜测试行业领军人物。1994年，DJH 向ASTM的一个代表提供关于它的一些细节信息及原理。1996年1月，DJH 测厚仪zei终成为ASTM D5796-95 指定的ASTM 干膜测试标准。