Clue系列探测器
HORIBA CLUE系列提供了一个可扩展的平台，用于SEM和双SEM / FIB（聚焦离子束）显微镜对纳米物体的成像和光谱分析。
近日，HORIBA科技发布用于扫描电子显微镜（SEM）的新型HORIBA CLUE系列探测器。
HORIBA CLUE系列包括：
i-CLUE快速阴极发光（CL）成像系统，具有大视场椭圆形收集镜。 i-CLUE在市场上独树一帜，可以实时升级到完整的光谱解决方案，为分析科学家提供了价格合理的高灵敏度CL检测的第一步。
F-CLUE坚固的成像和超光谱CL解决方案是对现有配置的轻松升级。超紧凑的内部设计（完全可伸缩的镜子收集）、外部的样品室、光纤耦合光谱仪适合所有带有自由水平端口的显微镜的客户。
H-CLUE成像和超光谱CL解决方案通过结合DUV-VIS-NIR，直接光耦合和高分辨率光谱仪的高质量抛物面镜，在市场上具有最佳性能。
R-CLUE结合HORIBA阴极发光技术，拉曼光谱和光致发光方面的专业技术结合在一个紧凑的光纤耦合中。
SEM-CL有助于发现缺陷，结构，应力在纳米尺度（<20nm空间分辨率）的性质，使其成为新型纳米材料表征的理想工具。为了提高锆石，磷光体和其他矿物质对半导体氮化物，薄膜太阳能电池和2D材料的多种应用的灵活性，HORIBA CLUE系列为客户感兴趣的样品提供了极致的灵敏度。
HORIBA科技在光学，检测器，真空技术和光谱方面的专业知识为每位客户提供了有关硬件和软件的准确信息，无论客户的样品类型如何。 HORIBA CLUE系列已经部署在全球知名的学术和行业研究和质量控制实验室。
HORIBA CLUE系列具有现场安装和培训，技术支持和应用支持，可帮助客户优化实验。
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