¥1
¥2
¥5
¥66
¥88
¥520
¥
致力于为分析测试行业奉献终身
扫描原子力显微镜(AFM)可以对纳米薄膜进行形貌分析,分辨率可以达到几十纳米,比STM差,但适合导体和非导体样品,不适合纳米粉体的形貌分析。