用于快速检测的缓冲区
为了更好地支持快速的全谱数据采集，我们增大了板载缓冲区，使其现在可储存15,000光谱，从而在USB通讯的条件下，可以通过缓冲时间标签光谱来保证数据的完整性。因此在进行全谱动力学检测时，您可获得8ms/张或最高125张/秒的全谱动力学数据。
可靠性能
热电致冷可精确的控制检测器的温度，大大的降低热噪声的影响，从而改进长时间检测时的检测器的整体稳定性。QE
Pro配备的热电致冷器件可在室温变化60度以上的情况下保持暗噪声稳定在4 counts，从而给您最高质量的数据。QE
Pro的高稳定性表现使其非常适合于那些要求严苛的，对温度变化非常敏感的在线或线旁质量控制检测。
用于定位QE Pro中的光学器件的动态装配大大提高了QE Pro的准确性与可靠性。同时，新的RS-232通讯协议允许QE Pro的 Firmware可以进行现场升级，使得您总是可以拥有最新功能的产品。
QE Pro 视频介绍
| 概览 | |
| 波长范围 | 可在185-1100nm范围内配置 |
| 可更换狭缝 | |
| 光学分辨率 | 0.14-7.7nm(FWHM)，取决于具体配置 |
| 系统信噪比 | 1000：1 |
| A/D分辨率 | 18bit |
| 动态范围 | 85，000（典型） |
| 杂散光 | <0.08% at 600 nm;0.4% at 435 nm |
| 缓冲区 | 可容纳15，000张谱图 |
| TE制冷 | 最低可致冷至比室温低40摄氏度。使用温度范围-40度至50度。 |
首页
