产品主要优势和特点
UV/VIS/NIR高分辨率的配置
测量准确度在1nm,精度在0.1nm
可测量最大10层薄膜
膜厚测量最小可至1nm,最大可至1mm
可测量最小1nm厚的透明金属层
提供试验台及附件用于复杂外形材料的测量
对表面缺陷和光滑度不敏感
庞大的材质数据库,保证各种材料的精确测量
快 速: | 每次测量只需轻点一下鼠标,测量结果立即呈现在显示屏上,不到一秒钟。应用于在线模式下,可接受到采样信号后,立即测量。 |
准 确: | 分辨率0.1nm,重复性0.3nm,绝对准确度优于1%,并且还有数百种材料组成的庞大材料库,帮助您准确分析您的薄膜。同时NanoCalc为光学测试系统,无任何运动部件,不会由于多次测量产生回程误差等机械运动误差,可长时间稳定工作。 |
无 损: | 光学无损检测,无需像台阶仪、SEM等需破坏样品进行测量。 |
灵 活: | 重量约为3.5kg,体积为180*150*263mm,USB连接方式,自适应90-240V的电压,携带方便,安装简单,可任意放置于实验室、生产线甚至办公桌上使用。拥有多种特种配件,可适用如非平面测量,显微测量,mapping等特殊要求。 |
易 用: | 软件界面直观,操作简便,用户体验出色。无需专业知识以及复杂的技术培训,预先设置好测试配方后,每次重复调用即可。 |
性价比高: | 相对于传统膜厚测量设备,NanoCalc拥有非常高的性价比。 |