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硅漂移探测器(Silicon Drift Detector,SDD)对1~10keV软X射线具有较高的探测效率和较高的能量分辨,将其应用于X射线脉冲星导航中微弱X射线探测,可以减小探测器面积同时提高信噪比。本文提出了一种易于实现的基于SDD的能谱测量方法。分析了将SDD探测器输出的原始阶梯信号整形成负指数脉冲信号的优势,并讨论了采样速率、光子计数率和负指数脉冲时间常数之间的关系。
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