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致力于为分析测试行业奉献终身
XPS是重要的表面分析技术之一,是由瑞典Kai M. Siegbahn教授领导的研究小组创立的,并于1954年研制出世界上第一台光电子能谱仪,1981 年,研制出高分辨率电子能谱仪。他在1981年获得了诺贝尔物理学奖。