分析测试百科网

搜索

喜欢作者

微信支付微信支付
×

X射线光电子能谱(XPS)的简介

2018.7.27
头像

温洁

致力于为分析测试行业奉献终身

XPS是重要的表面分析技术之一,是由瑞典Kai M. Siegbahn教授领导的研究小组创立的,并于1954年研制出世界上第一台光电子能谱仪,1981 年,研制出高分辨率电子能谱仪。他在1981年获得了诺贝尔物理学奖。

互联网
仪器推荐
文章推荐