¥1
¥2
¥5
¥66
¥88
¥520
¥
致力于为分析测试行业奉献终身
X射线光电子能谱(XPS)也被称作化学分析电子能谱(ESCA)。该方法首先是在六十年代由瑞典科学家K.Siebabn 教授发展起来的。这种能谱最初是被用来进行化学元素的定性分析,现在已发展为表面元素定性、半定量分析及元素化学价态分析的重要手段。此外,配合离子束剥离技术和变角XPS技术,还可以进行薄膜材料的深度分析和界面分析。
因此,XPS方法可广泛应用于化学化工,材料,机械,电子材料等领域。