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X射线荧光光谱仪(XRF)

2019.10.16
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liupan1991

致力于为分析测试行业奉献终身

原理:用一束X射线或低能光线照射样品材料,致使样品发射二次特征X射线,也叫X射线荧光。这些X射线荧光的能量或波长是特征的,样品中元素的浓度直接决定射线的强度。从而根据特征能量线鉴别元素的种类,根据谱线强度来进行定量分析。XRF有波长散射型(WDXRF)和能量散射型(EDXRF)两种,前者测量精密度好,稳定性高,但结构复杂,价格昂贵,应用较受限,后者结构简单,价格低,但干扰元素多,且准确性低,目前还处在继续完善阶段。


分析元素范围:4号铍(Be)-92号铀(U)


分析特点:分析速度快,操作简单,适合大块样品的测试;可进行元素定性分析,确定元素的类型;可实现全元素扫描;可对元素进行半定量分析,某些元素有标准物质时也可进行定量分析,检出限较高。


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