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随遇而安
扫描电子显微镜(SEM)是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态。扫描电镜(SEM)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
从原理上讲,扫描电镜是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。
扫描电镜可以直接观察观察纳米材料,进行材料断口的分析,直接观察原始表面等。