“提离效应”和运用涡流测量金属表面的非金属涂层厚度的原理
当检测线圈与被测试件之间的相对位置发生变化时，检测线圈在试件上产生的涡流密度就会改变。检测线圈与试样的相对距离逐步增加，涡流密度逐渐减小，涡流信号矢量点P可在阻抗平面图中出现移动，形成变化的轨迹。
这种现象称之为“提离效应”（lift offeffective）。
运用该原理可测量金属表面的非金属涂层（如油漆厚度）的厚度，或低电导率试样上高电导率覆盖层的厚度。当检测线圈远离（假设无穷远）试样时，试样中便没有涡流形成。
探头从中等电导率的试样提离（lift-off），在试样与探头间形成不同间隙（probe Spacing）时，阻抗平面图随之出现相应的变化；以上情况可看作在检测具有中等电导率试件时，试件上覆盖着不同厚度的低导电层（或非导电层）物质。
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