原子吸收法中背景吸收有哪些消除方法

　　原子吸收光谱法中扣除背景方法通常有三大类： 连续光源校正背景， 空心阴极灯自吸效应校 正背景，塞曼效应校正背景。
　　(1)连续光源校正背景。当待测元素波长在紫外波段(180-400nm)，采用氘灯或氘空心阴 极灯。波长在可见光及近红外波段时采用钨或碘钨灯，是现代 AAS 仪器应用较广泛的一种 校正背景方法。其原理是用待测元素 HCL 的辐射作样品光束，测量总的吸收信号，用连续 光光源的辐射作参比光束并视为纯背景吸收， 光辐射交替通过原子化器， 两次所测吸收值相 减因而使背景得到校正，这种方法有时产生背景校正不足或过度。两种光源光强度要匹配， 光斑要重合一致，但近年使用氘空心阴极灯可以克服这类不足之处。
　　(2)自吸(收)效应校正背景，又称 S-H 法校正背景。其原理是以低电流脉冲供电(峰值电 流 60mA)于 HCL 使其发射锐线光谱， 并测得原子吸收和背景吸收总吸收值， 以短时高电 流 脉冲供电(峰值电流约 600mA )于 HCL 使其发射谱线产生自吸(收)效应，而原子蒸气不为吸 收，其测得吸收值视为背景吸收值，将两值相减得到背景校正后吸收值。这种方法简单 和 成本低，能校正某些结构背景与原子谱线重叠干扰，可进行全波段 190-900nm 背景校正， 校正精密度高，但不是所有 HCL 灯产生自吸，有些元素如 AL、CA、V 等灵敏度下降。强 脉 冲影响 HCL 寿命。该法只作为其他校正法的补充。
　　(3)塞曼 Zeeman 效应校正背景是利用光源在磁场作用下产生谱线分裂的现象校正背 景。这种背景校正可有多种方法：可将磁场施加于 HCL，可将磁场施加于原子化器，可利 用横向效应，也可利用其纵向效应，可用恒定磁场，也可用交变磁场，交变磁场可分固定磁 场和可变磁场强度。一般用 2 磁场 Zeeman 背景校正， 近年也有 3 磁场 Zeeman 背景校正。 Zee-man 校正背景在 GFAAS 用得比较多，FAAS 用得比较少。不足之处为：比常规食品的 线性动态范围小，灵敏度也有所下降，个别元素谱线分裂不好。