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扫描电镜(SEM)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
①有较高的放大倍数,20-20万倍之间连续可调;
②有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;
③试样制备简单。
扫描电镜(SEM)案例分享:
材料表面微结构观察
半导体芯片剖面观察
电压对比
EDS Mapping分析
液态材料观察