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XRD是X射线衍射仪的简称。其基本原理是:当X射线照射所测物质（晶体），相应晶面会产生衍射强度。随着发射X射线的转轴移动，不同角度的不同晶面会被完全扫描出来。从而根据布拉格方程2d sinθ=nλ，呈现出图谱。广角XRD一般指3°~80°，甚至是更高的度数，一般用来判断某种材料的物相，即是什么物质。而小角XRD一般是指0°~3°的测试范围，在该范围内对应的晶面一般是层间，即（00X）晶面，一般用来比较改性物质前后该晶面的层间距变化。
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