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X射线荧光光谱仪分析误差的来源

2022.9.16
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zhaoqisun

致力于为分析测试行业奉献终身

X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面:

1. 采样误差:

非均质材料

样品的代表性

2. 样品的制备:

制样技术的稳定性

产生均匀样品的技术

3. 不适当的标样:

待测样品是否在标样的组成范围内

标样元素测定值的准确度

标样与样品的稳定性

4. 仪器误差:

计数的统计误差

样品的位置

灵敏度和漂移

重现性

5. 不适当的定量数学模型:

不正确的算法

元素间的干扰效应未经校正


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