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常用的X 射线荧光仪检测晶体的介绍

2022.9.26
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coco5517

认真做好每一件喜欢的事,把每一件要做的事都变成喜欢并认真去做的事

   常用晶体有 LiF、PET(用于检测 Si、Al)、Ge(用于检测P)、NaCl 、TAP (用于检测 Mg 、Na 、F),其中 TAP、PET、NaCl 等都是耐潮能力差的晶体,容易损坏,特别是 NaCl 容易潮解。TAP、PET的使用寿命一般为 5~6 年,因为太硬,容易出现裂纹,一般不影响使用,但翘起来的时候就需要修复了。这些晶体的表面经再次磨制后一般都能恢复原状。另外,强酸或强碱的化学腐蚀对 TAP 的损害很大,使用时一定要注意。晶体是仪器内最脆弱的部件,尽量不要用手接触衍射面,如果手或其他东西碰到了晶体的衍射面,手上的汗或其他物质渗到晶体的表面,使晶体表面的晶格间距发生变化,这样就会污染晶体,而 X 射线荧光的衍射主要发生在晶体的表面,因此会造成 2θ 扫描的峰形不光滑。这种故障一时很难消除。

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