基本参数法是XRF定量分析的有效算法，其将X射线荧光物理学明确的原理基本参数和数学模型化，在没有或少标准样品的情况下实现对未知样品的定量分析，通常的XRF仅考虑了谱线分数、荧光产额以及部分探测器效应，而对于入射射线的强度分布、谱线重叠、背景扣除等考虑不足，因此达不到精确定量分析的目的。
快速基本参数法（Fast FP)从X射线入射谱、X射线与物质相互作用、探测器各种效应等完全建立物理学明确的数学模型，通过大量运算，反复迭代采集谱与计算谱，达到对未知样品精确定量分析的目的。
通常的XRF采用影响系数法进行定量分析，由于元素之间的吸收增强效应以及基体效应，因此给定量分析带来困难，在分析的目标样品元素种类多且含量范围宽的情况下，对标准样品依赖和选择变得十分困难，也就是要打破元素含量的相关性，采用大量标准样品取得元素间的影响系数，在缺少标准样品的情况下，几乎不可能，或者带来定量结果的偏差。
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