半导体推力测试仪是一种应用于航空、航天等领域的先进测试仪器。它可用于测试各种推进系统在推力、推力变化、推力稳定性等方面的表现情况。
半导体推力测试仪亦可称之为大面积推拉力试验机，可进行拉伸、压缩、弯曲、剥离、撕裂、剪切、刺破、压陷硬度、低周疲劳等各项物理力学试验。还能自动求取大试验力、断裂力、屈服HRb、抗拉强度、弯曲强度，弹性模量、伸长率、定伸长应力、定应力伸长、定应压缩等，故广泛应用于半导体封装、LED封装、智慧卡封装、通讯电子、汽车电子产业及各类研究所、大专院校、电子电路失分析与测试等领域。
设备特点
1.所有传感器采用高速动态传感及高速数据采集系统，确保测试数据的准确无误。
2.采用公司独特研发的高分辨率(24 BitPlus超高分辨率)的数据采集系统。
3.采用公司独有的安全限位及安全限速技术，让操作得心应手。
4.采用公司独有的智能灯光控制与调节系统，减少光源对视力的损伤。
5.标配高清观察显微镜，减少人员视觉疲劳。
6.双摇杆四向操作及人性化的软件配置使操作简单、方便。
7.结合人体学的独特设计，让使用人员更加舒适。
8.设备全方位的保护措施，避免因人员误操作对设备的损坏。
9.强大的研发实力，根据客户的需求提供订制化产品。
10.贴心的售后服务，让使用人员无后顾之忧。
测试参数
设备型号：LB-8100A
测试精度：传感器精度±0.003%；综合测试精度±0.25%
测试范围：根据客户产品配置不同量程测试模块
工作方式：推针及拉针180度垂直与测试产品接触，确保数据的准确性
传感器更换方式：手动更换测试模组
操作系统：控制系统+Windows操作界面
平台夹具：机台可共用各种夹具，夹具可360度旋转
X轴行程：75mm
X轴分辨率：+/-0.002mm
Y轴行程：75mm
Y轴分辨率：+/-0.002mm
Z轴行程：80mm
Z轴分辨率：+/-0.001mm
电源：220V±5%
功率：300W(MAX)
外型尺寸：长：500mm宽：550mm高：440mm
重量：80kg
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