4156C精密半导体参数测试仪是Agilent下一代的精密半导体参数测试仪，4156C为器件表征提供了***参数分析的实验室平台。较高的低电流、低电压分辨率和内置准静态CV测量能力，4156C还为以后和其他的测量仪器的扩展使用提供了坚实的基础。41501B扩展测量能力到1A/200V，并给4156C增加一个低的噪声接地单元和双脉冲发生器。
4156C是基于PC的参数分析和表征的解决方案，标准配置包括一个参数分析仪，Agilent I/CV 3.0 Lite自动测试软件， Windows XP Professional的操作系统。I/CV 3.0 Lite软件可以提供一个图形操作界面，具有强大的分析工具，探针台驱动，和自动测试工具
Agilent4156C精密半导体参数分析仪HP4156C
特性
· 4156C提供4个内置的高分辨率的源/监控单元（HPSMUs），两个电压源单元（VSUs）和两个电压监控单元（VMUs）
· 1 fA 和0.2 uV的测试精度可满足开发新工技术和评价材料
· 全Kelvin，每个HRSMU有激励源、感应和接地端
· 完成准静态的电容对电压测试
· 自动提取处理参数而不需要人工操作屏幕光标
· 用极低泄漏的SMUs测量特有***特性
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