波长色散型X-荧光光谱仪是一种用于地球科学、工程与技术科学基础学科、能源科学技术领域的分析仪器，于2006年06月09日启用。
1、技术指标
RSD=0.09% 计数率按仪器技术规定的测试条件， Cu-Kα为808Kcps； P-Kα为259 Kcps； Al-Kα在PET晶体下为452 Kcps N-Kα为12.2Kcps； C-Kα为543Kcps； Al-Kα在PX-25晶体下为892 Kcps。 [1]
2、主要功能
X-射线荧光光谱仪被广泛的应用于岩石，矿物及地球化学勘察样品中40余种常，次，微量元素的测定，测定范围为0.000X%～100%,可用于无损检测。
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