ZSX Primus IV波长色散型X射线荧光光谱仪

ZSX Primus IV 采用上照射设计，不用担心污染光路，清理麻烦和增加清理时间等问题。

具有双真空系统，自动真空控制，mapping/微区分析，超轻元素超强灵敏度和自动芯线清洗等特点。

ZSX PrimusIV可灵活分析复杂样品。30μm超薄窗光管，保证轻元素分析灵敏度。先进的mapping分析可以检测同质性和夹杂物。

特点：

分析范围： Be - Cm

较小的占地面积

微区分析

上照设计

30 μm超薄窗

Mapping: 元素分布

He 密封:样品室一直在真空环境中