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PICOSUN 原子层沉积系统共享应用

2024.5.30
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zhaoqisun

致力于为分析测试行业奉献终身

仪器名称:PICOSUN 原子层沉积系统
仪器编号:16041497
产地:中国
生产厂家:PICOSUN
型号:R200 Advanced
出厂日期:201709
购置日期:201612

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所属单位:集成电路学院>微纳加工平台>薄膜工艺
放置地点:微电子所新所一楼109
固定电话:
固定手机:
固定email:
联系人:曹秉军(010-62784044,13910803625,caobj@mail.tsinghua.edu.cn)
窦维治(010-62781090,13366273985,douwz@tsinghua.edu.cn)
分类标签:集成电路 半导体 微纳加工, CVD 高K
技术指标:

4”硅片生长重复性及厚度不均匀性≤±2%;

氧化铝的介电常数>8.0,击穿电场>9MV/cm;

氧化铪的介电常数>18.0,击穿电场>3MV/cm。

最高温度 500℃。

知名用户:吴华强 微电子所;王谦 微电子所;
技术团队:

曹秉军

功能特色:

可在4”硅片上沉积氧化物薄膜,目前可以通过水、臭氧以及Plasma等方式沉积氧化铝、氧化钛、氧化铪、氧化锆、铪锆氧薄膜。


样品要求:

单片操作,硅片尺寸:4寸、6寸


预约说明:

根据实验室要求预约设备使用。在预约设备生长时,应提前跟工艺工程师联系,包括提供生长参数,提前送样,并及时取样。如果需要更换使用时间请按照要求提前通知,没有提前通知的按照实验室相关规定处理。

项目名称计价单位费用类别价格备注
原子层沉积系统 ALD -机时费元/小时自主上机机时费800.0
原子层沉积系统 ALD -送样测试费元/小时测试费800.0


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