荷兰 Phenom-World 公司于 2013 年 6 月 25 日，在荷兰艾恩德霍芬（Eindhoven, NL）发布了第三代 Phenom 台式扫描电镜。随着第三代 Phenom 台式扫描电镜的引进，Phenom-World 确立了其高档台式扫描电镜成像和分析在全世界台式电镜中的领导地位：10 万倍放大倍数和 17 nm 背散射电子分辨率，证明台式电镜的技术更上了一个台阶。
所有的 Phenom-World 扫描电镜使用简单、结构紧凑、成像快速并且质量标准高。目前最前沿的解决方案是下一代 Phenom ProX。利用一体式元素分析软件和专门设计的 EDS 探头，先进的系统可以识别系统中不同的元素。基于新的技术和软件开发，放大倍数进一步从 45000 倍升级到 100000 倍，分辨率更是达到 17 nm 。
| 全世界首例将 EDS 能谱仪集成在电镜中的设计 完全集成在电镜中的 EDS 探头，开拓了扫描电镜元素分析设备设计的新领域。是一项创新型发明，设计者 Karel D. van der Mast 教授一生致力于扫描和透射电镜行业。 Karel D. van der Mast 教授前半生致力于飞利浦 电镜部门，研发了： •第一台热辅助的场发射枪透射电镜 TEM •第一台电脑控制的 SEM •第一台windows系统控制的 SEM ( XL 系列) •高分辨率透射电镜 TEM @ 200 kV 1997 年，飞利浦电镜部门被 FEI 收购， Karel 加入 FEI，研发了 |  |
电镜能谱一体机 Phenom ProX 体积小巧，操作简单，不需要液氮，甚至不需要循环水冷却，防震设计，10 秒快速抽真空，1500 小时的 CeB6 灯丝等特点，使得电镜能谱一体机 Phenom ProX 在面市后一年内销量达到 500 台，成为课题组和工厂研发，质量控制部门的首选，也被用户认为是最前沿的、易用的、界面友好的成像和分析工具。EDS 技术的核心在于探测电子束与试样相互作用所产生的X射线，与钨灯丝相比，Phenom CeB6 灯丝能产生 10 倍以上的 X 射线。这也是电镜能谱一体机 Phenom proX 在分析元素的准确和快速方面的优势原因所在。
元素在试样中的分布情况可通过面扫描功能（mapping）实现，根据用户自定义的像素分辨率和扫描时间可以给出选定元素的面分布。面扫的过程中或者之后都可以进行元素的添加或移除。也可进行线扫描（line scanning），区域扫描（region scanning）等，结果生成报告输出。
Phenom-World CEO Emile Asselbergs 关于第三代 Phenom 台式扫描电镜如是说：
“在过去的几年里，我们公司充满了创新和专注的精神。现在我们很开心通过 Phenom 的方式，给我们的用户带来了更高的分辨率和放大倍数：非常清晰的图像效果，最大的易用性，效率，可靠性和合理的价格。随着下一代 ProX 的发布，Phenom-World 确立了它在台式扫描电镜的领头羊地位。我们坚信用户会喜爱这款新一代的 Phenom ！”
关于 Phenom-World
Phenom World 是全球台式扫描电镜和亚微米尺度应用的图像解决方案的技术领先供应商。其先进的技术和迎合客户需求的产品因此在市场和应用领域都独占鳌头。
Phenom World 不断地投资、开发和整合产品以帮助用户从投资、获取数据的时间中获得回报并提升系统的功能性。
Phenom World 通过确保无忧的图像和分析，从微米和纳米世界中帮助用户获得卓越和快速的结果。
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