Phenom ParticleMetric 软件——研究颗粒和粉末的强大工具，使用 Phenom 台式 SEM 和 ParticleMetric 软件可以使颗粒的可视化分析过程较之以前大大简化。快速、易用和超清晰图像质量的 Phenom 电镜，加上 ParticleMetric 的颗粒图像分析功能，创造了观察多种颗粒和粉末试样的强力工具。
用集成的 ParticleMetric 软件能够方便用户采集超细颗粒的形态和尺寸数据，带来粉末结构设计、研发和质量控制等方面的新发现和创新。柱状图、散点图和生成的图像都可以作为报告的素材按照指定格式输出。任何柱状图都可以按照被测颗粒的不同属性，生成数量柱状图和体积柱状图。
图 1 柱状图
散点图可以按照任何一项颗粒的特性生成，以便揭示相关联系和趋势。Phenom 颗粒分析解决方案能够使用户根据需要，随时获取所需数据。最终实现 ParticleMetric 加速颗粒物分析速度、提升产品质量的目的。
图 2散点图
颗粒分析：
颗粒尺寸范围：100 nm ~ 0.1 mm
颗粒探测速度：高达 1000 个/分钟
颗粒测量属性：大小、形状、数量
图形显示方式：
按数量或体积的线性、对数、双对数点状图
任何指定参数的散点图
单个颗粒的 SEM 图像
输出格式：
docx 格式的报告
TIFF 格式的图像
CSV 文件
离线分析的项目文件（.PAME）
ParticleMetric 软件的主要优势：
-Pro Suite 内部集成软件
-直接由 Phenom 获取图像
-识别并确认诸如破损颗粒、附着物和外来颗粒
-关联颗粒物的特征，比如直径、充实度、纵横比和凹凸度
-便捷的操作提升了工作效率并使计划表简单化和可预知
-无限制的图像采集，可轻松存储于网络或优盘，便于共享、交流或以后参考
-Phenom 的可用性和任何环境下的操作能力，使得任何人都可以用它来视觉呈现大量试样
-附有高清图片的统计学数据
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