t-plot法也称t-曲线，表征的是纳米多孔材料的孔体积、比表面积等信息。它是以吸附量对吸附膜的统计厚度t作图，通过检验样品的吸附行为与标准样品吸附行为的差异，得到样品相关信息的。
t-plot法是由Lippins、Linsen和De Boer创建的。检验实验等温线对标准等温线的偏离，实质上是对实验等温线与标准等温线进行形状比较，找出可否通过调整纵坐标标度而使两者重合一致。而t-plot法则正为此提供了方便，该法的依据是t-曲线即以吸附膜统计厚度t而不是n/nm为自变量作出的标准等温线图。其最初的目的是在计算孔径分布时，能够描述孔壁上的吸附层。他们认为实验数据和标准数据的纵坐标的标准化与吸附层的平均厚度相关。某个相对压力下的厚度值t应当等于单分子层的厚度乘以单分子层容量比Va/Vm，如果采用的是氮气吸附，那么单分子层厚度tm就等于3.54Å。
本期“麦克讲堂”中, 麦克默瑞提克（上海）仪器有限公司高级应用工程师谢雨从基础理论角度带您了解t-plot法（优酷视频链接：http://v.youku.com/v_show/id_XNDAxNTc0MTUxNg==.html?spm=a2h1n.8251843.playList.5!7~5~A&f=51785667&o=1）
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