还有一周，半导体行业的年度盛典SEMICON CHINA 2019便要拉开序幕，正式启动！赛默飞世尔科技作为科学服务领域的领导者，我们已做好准备期待来自全球各地的朋友们齐聚上海，共享盛宴。
此次展会期间，赛默飞为客户朋友们准备了多种现场互动环节，包括现场样品DEMO测试，新品发布会，行业应用技术分享，以及抽奖环节等等。让您三天不虚此行，满载而归。
近几年来，半导体工业已经普遍接受使用ELITE (Enhanced Lock In Thermal Emission) 实现电性失效分析定位的工作。ELITE具有极佳的灵敏度，可以帮助传统EMMI / OBIRCH 检测的不足。ELITE 还可以作为非破坏性检测，对于封装后的元件，分析失效点深度的位置。除了先进制程和封装的需求，针对功率元件在车用电子的应用，ELITE还支持高电压的测试。
展会现场，赛默飞设立ELITE实体机现场样品测试，一个更直观的平台帮助您了解仪器性能，提交样品测试申请，我们将从中选出7位观众参与如下时间段的现场样品测试，并送上精美礼品一份。
赛默飞将会在现场增设主题报告分享的环节。
赛默飞Nicolet旗下 iS50/iG50 系列硅片分析系统为硅片的研究或者大规模制造的质量控制提供了灵活强大的解决方案。 Nicolet iS50/iG50 系列硅片分析系统主要可以应用于氧、碳含量分析以及外延层 （EPI） 厚度测量。除此之外，iS50/iG50还可以应用于钝化层分析，例如：PSG、BSG、PBSG 中 PB 含量、Si中H的含量测定以及FSG。
Nicolet iN10 显微红外光谱仪在半导体微电子领域主要应用于：固化胶的固化率测定、电子材料的分析与表征、显示材料的剖析与表征以及异物分析。
针对这两款热门产品，以及更多半导体行业应用与技术分享，您可以在如下时间到达赛默飞展台，聆听主题报告，并与我们交流分享。
Thermo Scientific Helios 5 DualBeam 家族产品可实现新用户更迅速熟练地掌握第五代FIB/SEM性能。Helios 5 在 DualBeam系列产品中可实现最高分辨率的 STEM 成像，以及最快的超薄 TEM 样品制备，可应对7nm 甚至更小的节点分析。这些改善搭配我们的服务将使Helios 5系列家族产品成为最高效的半导体实验室仪器。
除了以上活动只要您到达现场，关注赛默飞材料与结构分析的公众号，秀出您与赛默飞的logo或者仪器的合影，我们便可当场打印出您的照片，同时您也可以参与赛默飞抽奖活动。
总计3份大奖以及15份纪念品将会在3月22日的微信推文中公布，持续关注赛默飞材料与结构分析公众号，了解获奖信息！
SEMICON CHINA 2019的展台选址于上海新国际博览中心：上海浦东新区龙阳路2345号
赛默飞展台位于N5馆，#5619展位。
赛默飞与您
在SEMICON CHINA 2019
不见不散！
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