我渐渐就安于现状了，对于我的孤独，我也习惯了。总有那么多的人，追寻一些甜蜜温暖的东西，他们喜欢的永远是星星与花朵。但在星星雨花朵之中，怎样才能显得出一个人坚定的步伐呢。
应材料人公众号的邀请，布鲁克纳米表面仪器部(BNS)布鲁克纳米分析部门(BNA)将携手电子显微学领域的众多知名专家学者于7月10号一同参加首期 电子显微镜技术与发展 网络研讨会。
布鲁克报告一：应用于电镜的原位力学性质测量手段
布鲁克的Hysitron PI 88 SEM PicoIndenter 是用于 SEM 和 FIB-SEM 的全面的原位纳米力学测试仪器。基于布鲁克的领先电容式传感器技术，PI 88 SEM PicoIndenter 为研究人员提供了一种功能强大的先进仪器，并搭载卓越的多功能性。模块化设计支持全套测试技术，包括 800°C 加热，刮擦测试，5轴样品定位，电气特性，动态疲劳测试等。
除了直接利用压痕功能压缩微柱，颗粒和其他小尺寸结构以测量应力应变行为和屈服特性并同时实时观察变形机制，配合五轴样品定位还能实现测试区域原位的EBSD 量测以获得结晶方向等信息。利用推转拉（PTP）器件能够针对纳米线、薄膜等样品就地测量拉伸应力-应变行为。配合使用具有电信号采集的 ECM 功能以及电气推转拉（E-PTP）器件可在进行拉伸测试的同时，使用标准的四点测量法测量样品的电阻率。电流源电极和电压传感电极的分离允许通过消除测量中的接触电阻和引线电阻来精确测量电性能。还可以执行电压扫描以测量IV曲线，而真应力和真应变则通过在电子显微镜中监视和测量样品尺寸来确定。
布鲁克报告二：TKD vs. PED: 纳米级晶粒取向图在SEM 和TEM 中的表征对比
EBSD (电子背散射衍射) 是 SEM 中一种被广泛使用的晶体学表征技术。人们通过采集和分析样品的菊池花样可以得到样品晶粒形状、物相、取向等等信息。然而，EBSD 技术受制于空间分辨率 (50-200nm)，不适宜用来表征纳米级晶粒。为了解决这个问题，TKD (透射菊池衍射) 技术应运而生。TKD 与 EBSD 原理相似，但是使用的是薄且电子透明的样品，因为电子束与样品相互作用体积显著降低，布鲁克独有的同轴 TKD 技术可以在 SEM 中实现远超传统 EBSD 的空间分辨率 (最高可达2nm)。与此同时，TEM 中的 PED (旋进电子衍射) 技术也可以实现材料的纳米级晶体学表征。可是，PED 与 TKD 相比，使用的电镜，加速电压，衍射花样的来源等等都有区别，关于两种技术比较的讨论目前很少。
在这次报告中，布鲁克纳米分析部的陆畅博士将以一篇今年最新发表的论文Comparison of Orientation Mapping in SEM and TEM 来详细介绍两种技术，展示它们对同一样品表征的结果，进而分析布鲁克的同轴 TKD 技术与 PED 技术在纳米级晶粒表征结果上的差异。
直播时间：2020年7月10日 下午2点开始
布鲁克纳米表面部报告时间约为 下午3点20
布鲁克纳米分析部报告时间约为 下午6点
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