关于 SICRIT
1. “酪”味·新“闻”丨原位质谱鼻·新嗅觉2. 氛味 | SICRIT 原位源 Q&A 第1期3. 一“呼”一“吸”，“质谱鼻”高敏示踪！4. 新型在线表征气溶胶化学组成SICRIT - Plasmion Customer Forum 2021
SICRIT 用户研讨会 11月23日（周二）
Session I
Session I (ASIA 亚洲)
16:00-19:00 北京时间
09:00am-12:00 pm CET
参与方式：腾讯会议
报名链接：
http://aspectechnologies.mikecrm.com/gSJ10y6
扫码报名
16:00
Welcome Remarks
欢迎致辞
16:20
Prof. Zhou Jiang (Peking University)
周江 教授 (北京大学)
Title: SICRIT-MS for in-situ analysis of VOCs in various samples
在线软电离质谱鼻实时分析各式样品中的挥发性有机物
摘要：软电离质谱鼻 SICRIT 偶联高分辨或串级质谱，快速实时分析各类样品中的挥发性有机物。方法普适于食品、副食、烟液、香料等，举例其在白酒、调味品、食用油、香辛料、茶和咖啡等聚类和溯源领域的应用。
16:45
Q&A I
17:00
Prof. Christoph Haisch (Technical University Munich)
Christoph Haisch 教授（慕尼黑工大）
Title: HELIOS/SICRIT/MS for analysis of aerosols in engine exhaust
软电离质谱鼻在线分析发动机尾气中的气溶胶
摘要：以 HELIOS-SICRIT 质谱鼻高敏在线分析车辆尾气中的颗粒挥发物，讨论其在车企和环保部门进行空气质量监测中的商用价值。
17:25
Q&A II
17:40
Sascha Rexroth (SHIMADZU Europa GmbH)
Title: Beyond standard analytical workflows - Coupling of GC and Shimadzu LCMS instruments with Plasmion SICRIT® ion source
超越标准分析流程：以 SICRIT 离子源耦合岛津气相和液质
摘要：分析仪器的常见局限性是将分析空间划分为适用于气相（GC）或液质（LCMS）的化合物分组。将 SICRIT 与二者耦合，可显著提升实验室能力和水平，对经气相分离的未知物进行（软电离）结构解析。
18:05
Q&A III
18:20
Open Discussion with referents of Talks I-III in separate Breakout Rooms
18:50
Summary
Session II
Session II (EU, US, AUS)
05:00 pm-08:00 pm CET
北京时间00:00-03:00（24日）
Platform: MS Teams
Registration:
https://www.eventbrite.de/e/198284723947
05:00
Welcome Remarks
欢迎致辞
05:20
Leopold Weidner (Helmholtz Center Munich)
Leopold Weidner（德国亥姆霍兹慕尼黑研究中心）
Title: Real-time monitoring of cereal roasting processes by ultra-high resolution mass spectrometry with plasmion ionization
SICRIT-FT-ICR 超高分辨质谱法实时监测谷物烘焙过程
摘要：以在线软电离质谱鼻实时监测面包屑烘焙过程中的化学反应，通过微型装置在 FT-ICR 质谱仪入口端加热几毫克谷物样品，在线监控谷物热加工过程中丰富多样的分子变化。
05:45
Q&A I
06:00
Rory Stevens (National Physical Laboratory, UK)
Rory Stevens（英国国家物理实验室）
Title: Atmospheric-pressure infrared laser-ablation with plasma post-ionisation for mass spectrometry imaging of FFPE tissue
大气压红外激光烧蚀偶联质谱鼻用于组织成像
摘要：质谱成像法 MSI 已开始用于临床，研究疾病的代谢表型。本报告提出一种新的激光溅射偶联质谱鼻的配置概念，用于石蜡包埋（FFPE）和新鲜冷冻组织的成像分析。
06:25
Q&A II
06:40
Chip Cody (JEOL USA)
Chip Cody (DART 共同发明人)
Title: t.b.d. (Summary and Experiences of SICRIT test measurements in the JEOL Demo Lab)
质谱鼻在 JEOL 实验室的测试总结和经验分享
07:05
Q&A III
07:20
Open Discussion with referents of Talks I-III in separate Breakout Rooms
07:50
Summary
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