烧失量，也叫灼烧减量。本意是指样品在一定温度下灼烧后失去的质量百分比。在XRF分析，烧失量是指在熔融制样过程中，样品中易挥发物质的挥发量。
烧失量简写：LOI （Loss On Ignition）
如果样品中含有还原成分，如FeO，在熔融制样过程中会氧化增重，会有烧增量（GOI，Gain On Ignition）。在Spectra plus软件中将烧增量表示为负数的烧失量。
LOI是样品中在高温下易挥发的组分：
CO32-
S2-
F-
Cl-
NO3-
有机组分
熔融制样的温度一般为950℃~1150℃，熔融时间一般为10分钟，在这样的熔融条件下，这些易挥发的组分基本都挥发了。熔融制样时的LOI和我们单独测量样品中的LOI，基本是一样的。
LOI在熔融制样过程中挥发了，也就改变了样品和熔剂的稀释比例，从而影响了基体效应（元素间的吸收增强效应）
4种方法：
将灼烧后的样品，加入熔剂熔融。LOI=0
输入LOI，Spectra plus 软件会校正LOI的影响
拟合LOI，软件有一个“未知烧失量”校正方法
消去LOI，软件可以消去LOI，重新计算理论α系数
1. 将烘干后的原始样品，加入熔剂熔融。LOI单独测量，将LOI输入到测量界面，软件会校正LOI的影响：
2. 将烘干后的原始样品，加入熔剂熔融。熔融完成后，熔融玻璃片称重。将样品、熔剂、玻璃片的重量输入到测量界面。软件会计算LOI，从而校正LOI的影响。
不测量烧失量，软件根据其他分析成分估算一个LOI，然后经过多次迭代和拟和，不用知道烧失量也可以进行准确的烧失量校正
在ApplicationSetup（应用设置）的“制样方法”栏中有“未知的LOI”校正功能
软件在计算α系数时可以消去某个化合物，即将该化合物的理论α系数设为0。通常情况下，软件将i元素对i元素的影响系数设为0。也可以将j元素（如LOI）对i元素的影响系数设为0，这时要修正其他成分的α系数。
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