如何制备
原子力显微镜的样品？
Park AFM User Handbook
原子力显微镜样品制备详细流程
本手册共有32页，详细说明了原子力显微镜样品的制备流程。本手册为大家提供免费学习教程，旨在为使用原子力显微镜的研究人员或即将使用原子力显微镜的研究者们提供更有效的样品制备使用说明。
原子力显微镜以其较强的原子和纳米尺度上的分析加工能力，在纳米科学技术的发展中占据及其重要的位置，其测量结果会根据样品制备方式，AFM机台选择或者测量方法而发生巨大的变化。
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Park希望通过这本AFM用户手册可以帮助研究人员更好地制备样品并获得助力大家科学研究的高清AFM成果。
本手册根据Park原子力显微镜工程师们和研究员们的AFM 样品测量经验杜撰而成，并在手册中对常用样品和测量环境进行了提及。
如果您所用的样品没有在此手册中被提及，或者您想要了解更多关于样品制备的相关信息，请联系Park应用组咨询 (ratc@parksystems.com)。
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5月26日网络讲座
神经形态和类脑计算具有并行处理和存储大量数据的能力且功耗低等优点，正在引起学术界和工业界的巨大关注。三端晶体管或两端忆阻器等电子器件常被用来模拟神经突触的可塑性等行为，而目前大多数报道的电学仿生突触尺寸较大（>1 um2），难以满足工业要求的高集成密度（1010 器件/mm2）。
5月26日
北京时间上午
10:00-11:00
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在本次讲座中将介绍如何利用导电原子力显微镜（CAFM）结合半导体参数分析仪（SPA）在纳米尺寸（~50nm2）原位观测忆阻型电子突触的动态响应，以及多种可塑性行为的模拟，包括低功耗双脉冲易化、兴奋性突触后电流、长时程增强/抑制等。本工作为研究纳米尺寸突触行为的探索提供了一种新的研究方法。
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