第 24 届中国国际光电博览会（简称CIOE）将在深圳国际会展中心举办，作为极具规模及影响力的光电产业综合性展会，同期六展覆盖信息通信、激光、红外、紫外、精密光学、摄像头技术及应用、智能传感、新型显示等版块，面向光电及应用领域展示前沿的光电创新技术及综合解决方案，掌握行业最新动向、洞察市场发展趋势、助力企业与光电行业上下游进行商贸洽谈，达成商业合作。
优尼康科技有限公司诚挚邀请您前来参加2023光博会，我们会展出诸多热销机型，现场可直接体验了解，还有精美礼品等您领取。
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展会时间：
2023年9月6日 - 8日
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展会地点：
深圳国际会展中心（宝安新馆）
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展位：5D61
官方免费快速报名入口
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展台现场会有各种精美小礼品
等待您的领取
参展设备（部分）
F50膜厚仪
F20-UV膜厚仪
F40膜厚仪
Filmetrics 膜厚仪可以简单快速地获得薄膜的厚度。基本上所有的光滑的非金属薄膜均可测量。
相关应用：半导体制造（光刻胶、氧化物/氮化物/SOI、晶圆背面研磨）；LCD 液晶显示器（聚酰亚胺、ITO 透明导电膜）；光学镀膜（硬涂层、抗反射层）；MEMS 微机电系统（光刻胶、硅系膜层）。
FS-1 多波长椭偏仪
Film Sense FS-1多波长椭偏仪采用寿命长 LED 光源和非移动式部件椭偏探测器，可在操作简单的紧凑型椭偏仪中实现可靠地薄膜测量。
相关应用：二氧化硅和氮化物，高介电和低介电材料，非晶和多晶材料，硅薄膜，光刻胶。高和低指数薄膜，如 SiO2, TiO2, Ta2O5, MgF2 。TCO（如 ITO），非晶硅薄膜，有机薄 膜（OLED 技术）等
Profilm 3D 白光干涉光学轮廓仪
Profilm3D 使用先进的垂直干涉扫描 (WLI) 与高精度的相位干涉 (PSI) 技术。实现次纳米级的表面形貌研究。
相关应用：粗糙度测量;三维形貌表征;台阶高度测量
KLA D300台阶仪
D系列台阶仪具有广泛的应用范围，包括从纳米级到毫米级的台阶高度，高分辨率的粗糙度，软材料和薄膜应力等，使其能够服务于研发和生产环境中的各个行业。
相关应用：薄膜材料表面台阶高度测试；表面粗糙度测试；刻槽深度宽度测试
优尼康科技有限公司欢迎您的莅临参观!
我们深耕薄膜测量行业十多年，不论您在薄膜测量方面有什么问题，我们的技术专家都可以为您提供有价值的建议或解决方案。欢迎来电，我们很高兴与您讨论您的应用问题。
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