4D-STEM技术能如何帮到您的科研项目？来午餐会边吃边聊吧！

继10月28日上午主会场TESCAN关于4D-STEM的报告《提升纳米尺度晶体相位和取向图，用旋进辅助式4D-STEM显微镜》之后，TESCAN诚邀对该技术感兴趣的专家老师们共进午餐，以轻松的自助餐形式，边吃边听边聊4D-STEM更多技术详情。

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新型扫描透射电子显微镜TESCAN TENSOR正在改变在纳米尺度上的材料表征方式，它可以对所有用户（包括材料科学家、半导体技术人员和STEM方法开发人员）轻松地进行各种样品的形态、化学和结构特性的精确分析。

分析型4D-STEM技术的性能和可用性不会受到TEM设计的影响，TEM本质上与分析型STEM具有不同的应用领域。

在这款新型分析型STEM显微镜的设计中，我们集成了最先进的组件，如带有混合像素技术的直接电子探测器、电子束旋进衍射附件、静电束闸和双EDS探测器。

超高真空控制单元在样品区域提供接近超高的真空度，并且可以忽略其中的碳氢化合物污染。所有这些组件的充分集成促进了它们的精确同步，提高了它们的性能，以及STEM、 EDS和4D-STEM测量的数据处理量。

控制界面以单一用户设置，提供无缝的用户体验，采集的数据可以实时处理和分析，几乎实时可视化，使样品表征成为一种交互式体验，而不是批量数据采集和后期处理。

一种新的分析STEM测量方法简化了样品分析工作流程，不需要TEM成像，也不需要在TEM和STEM模式之间切换。

先进的实时自动化系统校准调整STEM成像，STEM分析和4D-STEM纳米光束设置，使用户操作便捷性体验可与SEM和FIB/SEM仪器相媲美。

因此，用户可以将宝贵的仪器测试时间集中在与选取样品感兴趣的点上，同时最大限度地减少镜筒调整和校准所花费的时间。

图1所示：使用新型多模态分析电子衍射显微镜TESCAN TENSOR的样品分析工作流程（选择感兴趣区>选择测量方法>设置抓取图像参数>抓取图像并分析数据）。

演示两个Demo 操作过程， 直观了解TESCAN 新型4D-STEM 产品TENSOR 的各项功能与卓越性能，体验快速与便捷的工作流程。

希望通过TESCAN 新型4D-STEM 技术的分享，与各位专家老师交流科研需求与应用场景，讨论如何能帮助推进您的科研项目。