我们在东莞丨赛默飞引领电子显微技术发展趋势

赛默飞材料与结构分析中国

2023.10.30

赛默飞材料表征仪器

2023年10月26-30日，全国电子显微学学术年会第三次在东莞市盛大召开。本届大会为纪念专场，以“显微鸿鹄志，世界一片天——怀念郭可信先生”为主题，纪念中国电子显微学开拓者郭可信先生诞辰100周年。近2000多名专家、学者以及相关同仁参加了此次盛会。

赛默飞首席专家Eric Van Cappellen 在“The latest trends in (scanning) transmission electron microscopy”的大会报告中，首先追忆了与郭可信先生的渊源。

随后，Eric介绍了在当前生命科学领域，随着对细胞和组织研究的进一步深入，体电子显微镜再次成为趋势，但传统体扫描电子显微镜并不能满足前沿研究的需求。而具有4种可切换离子源(Xe, Ar, N, O)的Hydra Bio Plasma-FIB，有效解决了传统体扫描电子显微镜Z与X-Y方向分辨率不同以及机械变形的问题，可用于冷冻或树脂包埋生物样品更精确的体积成像及冷冻透射电镜三维重构样品的制备。

接着，Eric从电子光学的灵活性，数据收集的灵敏性，信息获得的有效性三个角度介绍了如何解决材料科学领域的应用难题——减少样品的电子束损伤。通过具体的案例，Eric介绍了赛默飞最新的基于AI的图像减噪，高通量高灵敏度低剂量Ultra-X能谱，适用于电子束敏感材料成像的iDPC等有效减少样品的电子束损伤的最新技术。

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在下午的茶歇会上， Eric继续以“Strategies to Minimize Beam Damage”为题，进一步详细介绍了最小化电子束损伤的应对策略及其底层原理。包括通过AI进行低剂量图像降噪的原理；Ultra-X的硬件配置及低剂量应用实例；iDPC技术的低剂量高衬度成像原理及其先进性等。

赛默飞首席专家Eric Van Cappellen

此次大会的赛默飞专场茶歇会上，我们还邀请了上海科技大学的王竹君教授带来了题为“环境扫描电子显微手段在表界面领域的应用与发展”的报告，王教授通过赛默飞独有的场发射ESEM技术，在仓室内通入特定气体可以在铜表面控制生成单层/多层石墨烯及石墨烯纳米带等，并针对生成的不同层石墨烯的性能及原理进行了深入研究，在顶级期刊Nature上发表了多篇文章。

上海科技大学王竹君教授

双束电镜产品市场经理Mikhail Dutka介绍了赛默飞双束电镜技术的创新及应用。报告展示了全自动及无Ga离子污染TEM样品制备技术和应用；利用多源等离子FIB的切割SiC、陶瓷、金刚石等样品的对比展示了每种离子源的独特优势，可以选择最合适的离子源来适应更多不同种类的材料刻蚀。报告最后介绍了利用飞秒激光与双束结合实现毫米尺度的高分辨三维重构，在增材制造造、清洁能源、半导体等需要高速大面积切割的方面的应用展示了广阔的应用前景。