直播邀请——赛默飞前沿电镜技术在电子束敏感材料表征上的突破和进展

赛默飞前沿电镜技术在电子束敏感材料

表征上的突破和进展

报告摘要

通过电子显微镜对材料进行微观结构表征，进而解读材料的结构与性能之问的联系，对于材料科学的发展有着非常深远的意义。然而，事实上存在着很大一部分比例的材料，例如分子筛，其结构会在电子束的照射下被快速地破坏，这为科研工作者的研究带来了不小的障碍。近年来，随着STEM-iDPC (Integrated Differential Phase Contrast，积分差分相位村度成像)技术的发展和成熟，我们发现该技术可以在极低电子剂量下依旧保持足够的信号量，非常适合于对分子筛等电子束敏感材料的高分辨成像。在实践中，可以获得分辨率接近1埃的高分辨图像。本报告将主要介绍STEM-iDPC技术在分子筛材料上的应用，介绍其技术特点，展示最新的实验成果。本次报告由中国科学院大连化学物理研究所能源研究技术平台邀请，将于线上线下同步进行，欢迎参加。

报告人简介

- 吴东昌博士 -

吴东昌博士，赛默飞世尔科技透射电镜应用经理，至今已有超过12年的透射电镜使用经验及8年的透射电镜培训经验。完成了国内第一张iDPC图像的采集，是iDPC技术在国内发展的见证者。

时间

8月19日（星期五）9:00-11:00

线下参加地点

中国科学院大连化学物理研究所能源基础楼一楼会议室

线上腾讯会议ID

540 997 756