本次网络研讨会将聚焦探讨针尖增强光谱学（TEOS）在二维过渡金属二硫化物（2D TMDs）和有机光伏（OPV）器件这两类重要半导体材料纳米级研究中的应用。
课程信息
课程名称
Tip-Enhanced Optical Spectroscopy (TEOS) application for the nanoscale
讲座时间
12月14日 15:00-16:00(法国时间）
推荐参加人员
二维材料研究者| 有机光伏器件研究者| 纳米成像研究者
讲座背景
对于2D TMD：
运用TEOS研究单层MoS2和WSe2中的激子过程。利用针尖增强光致发光（TEPL）成像技术，能够以20 nm的空间分辨率绘制出单层二硫化钼中激子和三重子的异质性。
将TEOS与开尔文探针力显微镜相结合，以50 nm的分辨率揭示单层WSe2晶界的光电行为，从而深入了解WSe2纳米片的不同电子和激子性质。
对于OPV设备：
了解同步形貌、电学和光学显微镜（STEOM），该方法可以同时表征形貌、化学成分和光电性质，分辨率低于20 nm。
分享应用STEOM研究可操作OPV器件的纳米形态和局部化学成分的方法，揭示其分子分布与局部光电流之间的相关性。
主讲人
Naresh Kumar 博士
苏黎世联邦理工学院，化学与应用生物科学系，高级科学家
您将了解
针尖增强光谱 (TEOS) 的基本原理
TEOS 如何与电模式 AFM 相结合，进行原位形貌、化学和电学纳米成像
在2D TMD和OPV半导体材料中，TEOS可以提供哪些化学和结构信息
此次网络研讨会，我们诚邀各位专家学者齐聚一堂，共同探讨这两类半导体材料在纳米级研究中的最新进展和未来趋势。期待您的参与！
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